使用ED400型渦流測(cè)厚儀的注意事項(xiàng)
渦流測(cè)厚儀是一款方便，小巧的用來(lái)測(cè)量非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層厚度的儀器，它被廣泛的應(yīng)用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，可以說(shuō)只要是鋁型材廠家都會(huì)有這種測(cè)量?jī)x器。ED400型渦流厚儀是我公司第三代產(chǎn)品其質(zhì)量和測(cè)試精度均達(dá)到非常理想的程度，但仍有一些用戶存在使用不當(dāng)?shù)那闆r，下面就大家普遍存在的使用問(wèn)題加以解釋幫助大家更好的使用這款儀器。
1. 涂層過(guò)薄
此款儀器的測(cè)量精度為0.5μm~1μm如果測(cè)量的涂層厚度小于5μm，測(cè)量結(jié)果應(yīng)取幾次測(cè)量的平均值。對(duì)于小于3μm的涂層就不能準(zhǔn)確測(cè)量出厚度值了。
2. 基體金屬厚度也有臨界值
每臺(tái)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度值，大于這個(gè)厚度，測(cè)量的精度就不受基體厚度影響了，但是小于這個(gè)厚度儀器的精度將無(wú)法保證，本款儀器的基體厚度臨界值為0.3~0.4mm。
3. 測(cè)量小面積或過(guò)窄材料時(shí)的方法
本款儀器在測(cè)量直徑小于150mm或試樣寬度小于12mm時(shí)需將形狀相同的無(wú)涂層材料作為基體重新校正后測(cè)量。
4. 減小測(cè)量表面粗糙度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
如果測(cè)量件的金屬基體表面較粗糙最好是選取多點(diǎn)多次測(cè)量的平均值。
5. 探頭和被測(cè)件表面的清潔
儀器測(cè)量時(shí)探頭應(yīng)是與試樣表面緊密接觸狀態(tài)，如果探頭前端或被測(cè)件表面有灰塵和污物對(duì)測(cè)量結(jié)果都會(huì)有影響，所以測(cè)量時(shí)應(yīng)保持深頭前端和試樣表面的清潔度。
6. 溫度的影響
溫度的變化會(huì)影響探頭的參數(shù)，因此，應(yīng)在與使用環(huán)境大致相同的溫度下校正儀器。